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涂膜厚度必須適度且均勻。如果涂膜厚度不合適，即涂膜過厚，就會(huì)出現(xiàn)裂紋；反之，涂膜過薄，就會(huì)出現(xiàn)變色、失去光澤、基底老化等問題。此外，如果涂膜不均勻，耐久性會(huì)因位置不同而發(fā)生變化，從而導(dǎo)致無(wú)法維持質(zhì)量等問題。

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因此，為了進(jìn)行質(zhì)量管理，一種常見的方法是使用膜厚計(jì)來(lái)測(cè)量和管理各種物品的涂膜厚度。膜厚計(jì)的種類繁多，需要根據(jù)測(cè)量對(duì)象選擇合適的設(shè)備。例如，測(cè)量透明薄膜的厚度時(shí)，可以使用利用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)，或利用紅外光的紅外膜厚計(jì)。

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然而，這些方法不適用于不透光的金屬。測(cè)量金屬鍍膜時(shí)，利用磁通變化的電磁式膜厚計(jì)或利用渦電流的渦流式膜厚計(jì)較為合適。此外，當(dāng)難以接觸測(cè)量對(duì)象時(shí)，也可使用超聲波膜厚計(jì)等非接觸式膜厚計(jì)。