SANKO山高 SWT系列專用探頭
特別功能
主機(jī)可配備可互換的獨(dú)立探頭。
根據(jù)被測物體的不同，選擇適用于鐵磁性（電磁式）或非鐵磁性（渦流式）基板的探針。
根據(jù)應(yīng)用和測量范圍，可以選擇高穩(wěn)定性探頭來測量微小物體或類似物體。
SWT（鐵探針）規(guī)格
模型
SFe-2.5※1/2.5升
SFe-0.6Pen
顯示分辨率
1μm：0~999μm，切換至0.1μm：0~400μm，0.5μm：400~500μm，0.01mm：1.00~2.50mm
1μm：0~600μm 切換至 0.1μm：0~400μm 0.5μm：400~500μm
精度（在平面上垂直測試）
0~100μm：±1μm 或讀數(shù)的±2%；
101μm~2.50mm：±2%
0~100μm：±1μm 或讀數(shù)的±2%；101μm~600μm：
讀數(shù)的±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型，
V型切口 2.5：φ15×47mm 2.5L：18×23×67mm
單點(diǎn)接觸恒壓型，V形切口 φ5.6 x 92.2mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度，零號測試板（Fe）
測量物體
在鐵、鋼等磁性金屬基材上進(jìn)行涂層、襯里、熱噴涂膜、電鍍（電解鎳電鍍除外）等處理。
在鐵、鋼等狹窄/小面積的零件基材上進(jìn)行涂層、襯里、電鍍。
※1.探頭耐熱（約200℃）。（SFe-2.5）
※2.V 型探頭適配器（3 種：小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20）可與 SFe-2.5 配合使用。
顯示分辨率
1μm：0~999μm；
0.01mm：1~10mm
1μm：0~999μm；
0.01mm：1~5mm；
0.1mm：5~20mm
精度（在平面上垂直測試）
0~3mm：±(5μm + 讀取值的3%)；
大于或等于3.01mm：±讀取值的3%。
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型，V形切口，φ20.4x47.1mm
單點(diǎn)接觸恒壓型，V形切口，φ35x55mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度，零度測試板（Fe）
SWT（NFe探針）規(guī)格
顯示分辨率
1μm：0~999μm，
切換至
0.1μm：0~400μm，0.5μm：400~500μm，
0.01mm：1.00~2.00mm
精度（在平面上垂直測試）
0~100μm：±1μm
或讀數(shù)的±2%；
101μm~2.00mm：±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型，V型切口
2.0：φ15 x 47mm 2.0L：18 x 22 x 67mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度，零板測試用（NFe）
探針需單獨(dú)訂購。
※V 型探頭適配器（3 種：小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20）可與 SNFe-2.0 配合使用。
顯示分辨率
1μm：0~600μm
切換至
0.1μm：0~400μm
0.5μm：400~500μm
1μm：0~999μm；
0.01mm：1~8mm
精度（在平面上垂直測試）
0~100μm：±1μm
或讀數(shù)的±2%；
101μm~600μm：±2%
0~3mm：±(5μm + ±3%讀取值)；
大于或等于3.01mm：±3%讀取值
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型，V形切口，Φ13×45.5mm
單點(diǎn)接觸恒壓型，V形切口 φ35×59mm
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度，零板測試用（NFe）
例如鋁、銅等材料，具有很高的穩(wěn)定性，適用于細(xì)棒、管材和微型零件。
相對較厚的物體
137-1702-2188
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