137-1702-2188
SANKO山高薄膜厚度計(jì) 鉛筆劃痕測(cè)試儀 product
簡(jiǎn)要描述： SANKO山高 UDM-1100超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào)：發(fā)布時(shí)間：2026-01-31產(chǎn)品展示
product詳細(xì)介紹
SANKO山高 UDM-1100超聲波測(cè)厚儀
特征
本測(cè)試儀通過(guò)使用已知硬度的鉛筆芯在涂層上劃痕，并測(cè)定劃痕程度，來(lái)評(píng)估涂層的硬度和附著強(qiáng)度（阻力、塑性變形、內(nèi)聚破壞等）。它
具有多種標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試條件的功能，使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363標(biāo)準(zhǔn)。
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