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SANKO山高 SM-Pen 電磁模擬薄膜厚度計(jì)

SANKO山高 SM-Pen 電磁模擬薄膜厚度計(jì) product

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SANKO山高 SM-Pen 電磁模擬薄膜厚度計(jì)

簡要描述： SANKO山高 SM-Pen 電磁模擬薄膜厚度計(jì)

  • 產(chǎn)品型號：
  • 發(fā)布時(shí)間：2026-01-30

詳細(xì)介紹

SANKO山高  SM-Pen 電磁模擬薄膜厚度計(jì)

筆式探頭可用于測量小型零件（可定制）。

特征

這種筆式探針的尖端裝有超細(xì)磁極，

可以測量微小零件和狹窄空間。

 

規(guī)格

測量范圍
0 至 300 微米 0 至 5 毫米（雙線標(biāo)尺）
測量精度
在均勻表面上精度為±2μm，或?yàn)樗局档摹?%。
電源
6節(jié)AAA電池（1.5V）
工作溫度
0 至 40°C（無冷凝）
飛機(jī)尺寸
105（寬）× 48（高）× 165（深）毫米
重量
500克
配件
標(biāo)準(zhǔn)厚度表盤、表盤蓋、收納盒
探測
筆型 φ11×130mm，CVD磁極：φ2.6×4.5mm