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漆膜厚度必須適當(dāng)、均勻。如果漆膜厚度不合適，即漆膜太厚，會產(chǎn)生裂紋，太薄，則會產(chǎn)生變色、失光、基面劣化等問題。此外，如果材質(zhì)不均勻，耐久性也會因地點而異，從而導(dǎo)致無法保持質(zhì)量等問題。

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因此，出于質(zhì)量控制的目的，通常的做法是使用膜厚儀來測量和控制各種產(chǎn)品上漆膜的膜厚。膜厚計有多種類型，根據(jù)測量對象使用適當(dāng)?shù)难b置。例如，當(dāng)測量透明薄膜的厚度時，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計或使用紅外光的紅外膜厚計。

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然而，這些方法不能用于金屬，因為它們不允許光穿過它們。測量金屬鍍層等薄膜時，適合利用磁通量變化的電磁式膜厚計或利用渦流的渦流式膜厚計。此外，如果難以觸摸被測物體，也可使用超聲波涂層測厚儀等非接觸式涂層測厚儀。