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KOBRA-WR位相差測定裝置日本OSI王子計測機器

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王子計測機器株式會社成立于1996年9月1日,主要進行計測機器的開發(fā),制作。主要產(chǎn)品高分子計測機器,畫面處理機器,相差測定裝置等

測定對象:

■位相差薄膜、偏光板

■光盤

■液晶元件

■磁性用標準膠片

■收縮薄膜

■柔性LCD基板材料

用途:

■光學(xué)薄膜的研究開發(fā),品質(zhì)管理

■延伸薄膜の定向評價(3次元折射率、面配向度)

■包裝薄膜的熱收縮の熱収縮、抗扯性能評價

■液晶元件的旋角、波長分散特性評價

■光學(xué)原件的透射橢圓偏光評價

銷售領(lǐng)域:

■印刷行業(yè)

■橡膠行業(yè)

■制紙行業(yè)

■制藥行業(yè)

■食品行業(yè)

■金屬行業(yè)

■化學(xué)行業(yè)

通信地址(收貨地址):

OSIA系列
操作簡單...圖像分析可以用最少的屏幕操作進行。
免費設(shè)計...我們根據(jù)用戶需求量身定制。

DA - 7000?
簡單的系統(tǒng)是高性能的!
任何人都可以處理的高性能專用機器。這是OSI圖像分析系統(tǒng)的概念

王子OSI計測機器:

王子OSI計測,BF-7D,物質(zhì)分析儀,材料行業(yè)應(yīng)用

王子OSI計測,BF-7S,多功能生物傳感器高精度分析儀

王子OSI計測,BF-7M,物質(zhì)高精度分析儀

王子OSI計測,BF-48ASX,物質(zhì)高精度分析儀

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王子OSI計測,BF-30ASX1,物質(zhì)高精度分析儀

王子OSI計測,BF-96AS,物質(zhì)分析儀

王子OSI計測,OLBIS,物質(zhì)高精度分析儀

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王子OSI計測,BF-510,生物高精度分析儀

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王子OSI計測,APQS,打印機評價系統(tǒng)

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王子OSI計測,DIP-2000,微異物測量裝置

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王子OSI計測,KOBRA-HBPR,偏光板軸角度測定儀

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王子OSI計測,KOBRA-WPR,偏光板軸角度測定儀

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王子OSI計測,KOBRA-WIS/RT,位相差測定裝置

王子OSI計測,KOBRA-CCD,微小面積位相差測定裝置

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王子OSI計測,SAPA,微小面積偏光解析裝置

王子OSI計測,KOBRA-WI/SPC,一般用位相差計

王子OSI計測,PAM-P100,偏光方位角測定器

王子OSI計測,PAM-IMS100,復(fù)屈折測定裝置

王子OSI計測,PAM-UHR100,超高位相差測定裝置

王子OSI計測,PAM-PTB100,偏光板軸測定裝置

王子OSI計測,PAM-PR300,光學(xué)軸測定裝置

王子OSI計測,MOA-6000,微波方式定向評價裝置