測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。在做測(cè)厚儀的時(shí)候要注重以下八點(diǎn)：

　　1.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

　　2.在測(cè)量的時(shí)候要注重，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

　　3在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4.在測(cè)量的時(shí)候要注重試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

　　5.測(cè)量前要注重四周其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，假如會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

　　6.測(cè)量時(shí)要注重不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面外形的忽然變化很敏感。

　　7.在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

　　8.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)